CERSA-MCI
Instrumentos de medición
FRFrancia
1981
11-50

¿Cómo se pueden detectar los defectos superficiales en los alambres finos, incluso a alta velocidad?

¿Cómo se pueden detectar los defectos superficiales en los alambres finos, incluso a alta velocidad?

CERSA ha puesto toda su experiencia al servicio de un reto que muchos fabricantes de alambre estaban esperando: un instrumento capaz de inspeccionar el estado de la superficie y detectar defectos durante la producción.

Olvídese de las técnicas de análisis de laboratorio en muestras de alambre ya enrolladas; ahora el SQM-F permite la detección continua en tiempo real en la línea de producción. El análisis y la comprensión de los defectos detectados permiten mejorar considerablemente la calidad del producto final, al tiempo que se reducen drásticamente los desechos y se optimiza el ahorro de tiempo. Esto lo convierte en una solución de medición rápida y rentable. 

El SQM-F ofrece una detección de defectos superficiales de alta resolución y en tiempo real con 200.000 imágenes por segundo. Defectos como arañazos, falta de chapado o impurezas, burbujas o partículas en el aislamiento son ejemplos típicos de defectos analizados. El SQM-F ha sido desarrollado para centrarse en dimensiones muy finas: diámetros entre 20µm y 2000μm.

La SQM-F lleva sólo unos meses en el mercado y ya está despertando un gran interés entre los fabricantes de alambre y tubos finos de todo el mundo. Numerosas pruebas han confirmado la capacidad de detección del SQM-F en una amplia gama de aplicaciones (alambres desnudos, recubiertos, esmaltados, tubos finos para aplicaciones médicas) y varios clientes ya han hecho pedidos.

El uso del SQM-F en sus líneas le proporcionará muchos beneficios. Le ayudará a:

• mejorar la calidad final;
• ahorrar dinero en materias primas;
• reducir drásticamente los residuos;
• aumentar su productividad;
• alcanzar estándares más altos y superar a la competencia.

Descubra en vídeo el principio de medición del nuevo dispositivo CERSA. ¡Un dispositivo realmente innovador capaz de detectar defectos de unas pocas micras incluso a alta velocidad!



Visite www.cersa-mci.com para saber más sobre SQM-F, o póngase en contacto con la empresa en [email protected].

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lunes, 4 de octubre de 2021